CAS140D

精度較高、快速陣列光譜儀 – 面向客戶要求的測量

產品描述

參數

CAS 140D – 光測量標準

Instrument Systems 的 CAS 140D 陣列光譜儀被視為弱光源和輻射度的光譜光測量技術的基準。

該產品基于久經考驗的交叉 Czerny-Turner 光譜儀并配備具有冷卻性能的 CCD 探測器，具有以下特色

CAS 140D 的應用范圍從校準實驗室的標準儀器到生產中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一個特定質量屬性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校準，我們的光譜儀都配備該校準功能。

與廣泛的配件搭配組合，可以將光譜儀升級為一體化系統，適用于各種光譜輻射和光度測量任務。

在校準過程中使用雜散光校正矩陣運算（可選），可進一步降低 CAS 140D 原本就出色的雜散光值。因此，該測量儀器也非常適合 UV-LED 和 LED 光源危害等級（光生物）的測定。

CAS 140D 是 Instrument Systems 系統解決方案中的重要測量儀器。輔以軟件包（SpecWinPro、LumiSuite）、積分球、測角儀、圖像色度測量儀和廣泛配件，我們針對測量挑戰提供合適的一體化系統，按照您行業的當前標準制定。

無論是需要對個別 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 產品執行輻射或光度測量，還是需要評估基于 LED、OLED 或 µLED 的顯示屏 – CAS 140D 適用于想得到的光度應用以及實驗室和生產挑戰。

型號	UV/VIS	UV/VIS/NIR	VIS	VIS/NIR
光譜范圍	200-830 nm	220-1020 nm 300-1100 nm	360-830 nm	380-1040 nm
光譜分辨率 (100 µm 狹縫)	3.0 nm	3.7 nm	2.2 nm	3.0 nm
數據點間隔	0.65 nm	0.8 nm	0.5 nm	0.65 nm
LED 的雜散光	1·10^-4	1·10^-4	1·10^-4	1·10^-4
波長測量精度	±0.2 nm	±0.2 nm	±0.2 nm	±0.2 nm
^{詳細測量條件請參看數據表及產品手冊，或聯系上海方全光電儀器。}